意大利MIam Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)由愛儀器儀表網(wǎng)代理,本產(chǎn)品是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器?,F(xiàn)在熱賣中!
Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)簡介:
Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測器的全自動掃描測量系統(tǒng)。
Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測器。主要應(yīng)用于各類研究,氡和中子的劑量測定。
Politrack提供了多種軟件包,適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測量。
掃描面積可達(dá) 205x205 mm2,用戶可定義探測器尺寸和讀取面積。
通過 OCR 讀取探測器ID。
在掃描開始時執(zhí)行的自動對焦例程可確保在整個讀取過程中使圖像聚焦探測器表面。
形態(tài)分析會將對來自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進(jìn)行分類,并去除本底噪聲。
形態(tài)參數(shù)中具有濾鏡功能,用戶可以看到應(yīng)用濾鏡后會發(fā)生或出現(xiàn)什么狀態(tài),并且以此進(jìn)行修改參數(shù)范圍或度。軟件可對與徑跡密度成正比的徑跡重疊進(jìn)行校正。
輸出數(shù)據(jù)文件包含所有探測器相關(guān)數(shù)據(jù),用戶可以自定義輸出模板和格式(與Excel*兼容)。
Politrack全自動固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)特點(diǎn):
任何尺寸的CR-39和LR115檢測器均可讀數(shù)
精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析
CR-39檢測器老化校正
LR115殘余厚度校正
重疊校正
清晰明確的算法,不存在黑匣子
操作員可設(shè)置和修改所有參數(shù)
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域:
各類研究工作
劑量測定服務(wù)
氡測量
快中子
熱中子
LET光譜
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)操作方法:
用戶可以定義探測器的類型和尺寸,讀取區(qū)域以及所有掃描參數(shù)。形態(tài)分析可以區(qū)分來自不同粒子和具有不同能量的徑跡,去除本底干擾。
所有算法清晰明確,用戶可以通過功能強(qiáng)大的圖形工具輕松修改和/或應(yīng)用形態(tài)分析濾鏡,并實(shí)時可視化結(jié)果。若需更改參數(shù),可直接使用二次計(jì)算工具,而無需重新讀取探測器。輸出文件包含所有探測器相關(guān)掃描數(shù)據(jù),用戶可自定義輸出模板和格式。
Politrack固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):
蜂窩抗振面包板 | 550x750x40毫米 |
三軸微步電機(jī)控制板 | |
顯微鏡: | 4x +針孔(rad); 20x +冷凝器(中子) |
掃描架 | 200x200 mm |
Z軸精密線性平臺 | 重復(fù)精度+/- 0.5微米 |
相機(jī) | 1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n,30幀/秒 |
XY電動掃描臺 | 205x205mm,90mm / sec,分辨率<1微米 |
LED系統(tǒng) | 用于樣品背光 |
軟件包: | CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀 |